短波红外相机采用InGaAs焦平面探测器，640×512@15μm分辨率，可带 TEC制冷，可自由开窗，具备目标跟踪功能；具有透雾能力强、帧频高、接口丰富、结构紧凑、性能稳定等特点。采用优异的低噪声设计和TEC制冷设计，机芯具有很低的暗电流和高动态范围，保证了更佳的图像质量。
应用领域：透雾成像、微光成像、激光光斑识别与跟踪、激光导引、战场激光排查、空间光通信、水分或结冰探测、电信光纤传输质量检测、手持/机载/车载光电载荷、森林防火、半导体/太阳能电池板检测、材料分选、天文及生物成像等方面。
产品特色：
灵敏度高、透雾能力强；
专业的图像处理算法：自适应对比度增强，板载非均匀性较正，自动曝光/自动增益控制；
多种帧频可调：画面流畅，适合不同集成需求；
可选图像跟踪功能，相关跟踪和质心跟踪两种模式，可用于激光光斑跟踪；
数字、模拟视频同步输出：PAL/NTSC/CameraLink/GigE
| 规格型号
| VS-SWA640C
| VS-SWA640
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| 分辨率
| 640x512
| 640x512
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| 像元尺寸
| 15微米
| 15微米
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| 最高帧速
| 50/100/300Hz
| 50/100/300Hz
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| 光谱响应范围
| 0.9-1.7微米
| 0.9-1.7微米
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| 探测器
| InGaAs
| InGaAs
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| 增益模式
| 手动/自动增益
| 手动/自动增益
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| 数据接口
| CameraLink/千兆以太网
| CameraLink/千兆以太网
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| 制冷方式
| TE制冷
| 非制冷
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| 是否支持开窗
| 可自由开窗（支持160*12像素@1000Hz）
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| 曝光时间
| 手动/自动曝光
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| 图像算法
| 自适应对比度增强，板载非均匀性较正，自动曝光/自动增益控制,可选光斑跟踪算法
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