应用领域:透雾成像、微光成像、激光光斑识别与跟踪、激光导引、战场激光排查、空间光通信、水分或结冰探测、电信光纤传输质量检测、手持/机载/车载光电载荷、森林防火、半导体/太阳能电池板检测、材料分选、天文及生物成像等方面。
产品特色:
灵敏度高、透雾能力强;
专业的图像处理算法:自适应对比度增强,板载非均匀性较正,自动曝光/自动增益控制;
多种帧频可调:画面流畅,适合不同集成需求;
可选图像跟踪功能,相关跟踪和质心跟踪两种模式,可用于激光光斑跟踪;
数字、模拟视频同步输出:PAL/NTSC/CameraLink/GigE
规格型号 | VS-SWA640C | VS-SWA640 |
分辨率 | 640x512 | 640x512 |
像元尺寸 | 15微米 | 15微米 |
最高帧速 | 50/100/300Hz | 50/100/300Hz |
光谱响应范围 |
0.9-1.7微米
|
0.9-1.7微米 |
探测器 |
InGaAs |
InGaAs |
增益模式 |
手动/自动增益 |
手动/自动增益 |
数据接口 | CameraLink/千兆以太网 |
CameraLink/千兆以太网 |
制冷方式 | TE制冷 |
非制冷 |
是否支持开窗 | 可自由开窗(支持160*12像素@1000Hz) | |
曝光时间 | 手动/自动曝光 | |
图像算法 |
自适应对比度增强,板载非均匀性较正,自动曝光/自动增益控制,可选光斑跟踪算法 |